吉致電子藍(lán)寶石拋光液雙面研磨與單面精磨
藍(lán)寶石襯底的表面平坦加工旨在去除線切產(chǎn)生的線痕、裂紋和殘余應(yīng)力等表面、亞表面損傷層,提升藍(lán)寶石晶片的表面質(zhì)量,從而達(dá)到 LED 芯片制備的表面質(zhì)量要求。CMP化學(xué)機(jī)械研磨工藝是解決藍(lán)寶石襯底表面平坦化的有效工藝之一,那么雙面研磨與單面精磨工藝是怎樣的,研磨拋光耗材該怎么選?
藍(lán)寶石襯底雙面研磨可實(shí)現(xiàn)上、下兩個(gè)平面的實(shí)時(shí)同步加工,有效減小兩個(gè)平面之間因加工引起的應(yīng)力應(yīng)變差,具有較好的表面翹曲度和平整度修正效果;但雙面研磨后晶片表面仍然存在著厚度為(0~25)um的表面/亞表面損傷層,而化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)的材料去除厚度只有(3~5)um顯然不能夠滿足去除雙面研磨加工損傷層的要求。
單面精研磨即銅盤研磨,其加工精度和材料去除厚度介于雙面研磨和化學(xué)機(jī)械拋光兩者之間,因此采用單面精研磨作為過渡工藝,對(duì)晶片表面做進(jìn)一步處理,從而滿足化學(xué)機(jī)械拋光對(duì)晶片表面前處理的質(zhì)量要求;晶片經(jīng)銅盤研磨后,表面損傷層厚度降至數(shù)微米,但其內(nèi)在微觀質(zhì)量仍需進(jìn)一步提高,采用化學(xué)機(jī)械粗拋光去除銅盤研磨過程中殘留的損傷層;最后通過化學(xué)機(jī)械精拋光完成晶片超光滑無損傷鏡面表面的加工,使晶片表面粗糙度降低至亞納米級(jí)。
不論是雙面研磨亦或是單面精磨,選擇精確的CMP研磨耗材是關(guān)鍵。使用吉致電子藍(lán)寶粗拋液、精拋液并搭配不同材質(zhì)的藍(lán)寶石研磨墊可達(dá)到事半功倍的效果。有效提神拋磨速率和良品率,經(jīng)客戶使用數(shù)據(jù)反饋:吉致電子藍(lán)寶石拋光液速率表現(xiàn)快于競(jìng)品液;藍(lán)寶石襯底表面劃傷數(shù)量少于競(jìng)品液;拋光后藍(lán)寶石襯底表面粗糙度優(yōu)于競(jìng)品液。吉致電子為您解決藍(lán)寶石襯底拋光難題!
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